產品介紹
[K系列] 標準款_檯面尺寸:304mm x 304mm_行程:--

[K系列] 標準款

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Bowman XRF塗層測量儀器是美國製造的精密台式機,用於塗層厚度測量,元素分析和電鍍溶液測量。 憑藉下一代技術,包括最新和最好的檢測器和複雜的軟件,Bowman XRF還可以了解樣品中存在哪些元素。儀器可以同時測量多達五層塗層,其中兩層可以是合金

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BOWMAN K系列


K 系列是為處理各種樣品的品質部門而開發的。它在高度高達 9 英寸(228 毫米)的零件上具有領先的 12 英寸(304 毫米)x 12 英寸(304 毫米)可測量區域。自動多準直器可選擇光點尺寸以適應各種特徵尺寸;可變相機允許在 0.25 吋至 3.5 吋的焦距範圍內進行測量。


伺服馬達驅動的可程式平台可實現快速、精確的可編程樣品定位。懸臂門設計使操作員可以輕鬆放置樣品。可用的表格視圖功能可對整個可測量區域進行成像,並允許操作員只需單擊即可導航到任何位置。可用的內建操縱桿使操作員可以從系統的控制面板移動 XY 平台,無需軟體幹預。


標準 K 系列配置包括 4 位元(4、8、12 和 24 mil)多準直器;可選尺寸為 2x2mil 至 60mil。可變焦便於在凹陷區域進行測量。伺服馬達驅動的可程式平台允許使用可選的 XYZ 程式進行零件測量。程式可以使用模式匹配和自動對焦來確保精確的測量。與所有 Bowman XRF 系統一樣,K 系列配備標準矽漂移探測器 (SDD) 和長壽命微焦點 X 射線管。


K 系列 XRF 符合 ASTM B568、DIN50987、ISO 3497 和 IPC-4552 標準。

 

K 系列 XRF 最適合有以下要求的客戶:

  • 保證滿足 IPC-4552、4553、4554 和 4556 標準
  • 卓越的人體工學設計:輕鬆存取、可程式載物台、活躍的行程
  • 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 標準
  • RoHS 能力

 

產品規格

元素範圍: 鋁 13 到鈾 92
X射線激發: 50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢陽極管(可提供鉻、鉬、銠陽極)
檢測器: 解析度為 190eV 或更高的矽固態探測器
分析
層分析和元素的數量:
每層5層(4層+底層)和每一層可達10個元素,同時分析多達30個元素
濾波器/準直器: 4個主濾波器/4 個電動準直器
焦距深度: 具有雷射和影像自動對焦功能的多個固定焦深
數字脈衝處理: 4096CH數字多通道分析儀,具有靈活的成型時間,自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正
電腦: Intel,CORE i5 3470處理器,8GB DDR3內存,Microsoft Windows 10/11 Professional 64bit等效能
相機光學: 2x 1/3〃 CMOS- 2688×1520 分辨率
影像倍率: 30 倍微距和 7 倍數位變焦:標準; 55X微型可選
電源供應: 480W,100~240伏特;頻率範圍 47Hz 至 63Hz
重量: 270 Lbs/ 120 Kg
標準電動/可編程 XY: 檯面尺寸:304mm x 304mm / 行程:304mm x 304mm
內部尺寸: 高度:609 mm,寬度:609 mm,深度:228 mm
外形尺寸: 高度:712 mm,寬度:928 mm,深度:674 mm