BOWMAN K系列
K 系列是為處理各種樣品的品質部門而開發的。它在高度高達 9 英寸（228 毫米）的零件上具有領先的 12 英寸（304 毫米）x 12 英寸（304 毫米）可測量區域。自動多準直器可選擇光點尺寸以適應各種特徵尺寸；可變相機允許在 0.25 吋至 3.5 吋的焦距範圍內進行測量。
伺服馬達驅動的可程式平台可實現快速、精確的可編程樣品定位。懸臂門設計使操作員可以輕鬆放置樣品。可用的表格視圖功能可對整個可測量區域進行成像，並允許操作員只需單擊即可導航到任何位置。可用的內建操縱桿使操作員可以從系統的控制面板移動 XY 平台，無需軟體幹預。
標準 K 系列配置包括 4 位元（4、8、12 和 24 mil）多準直器；可選尺寸為 2x2mil 至 60mil。可變焦便於在凹陷區域進行測量。伺服馬達驅動的可程式平台允許使用可選的 XYZ 程式進行零件測量。程式可以使用模式匹配和自動對焦來確保精確的測量。與所有 Bowman XRF 系統一樣，K 系列配備標準矽漂移探測器 (SDD) 和長壽命微焦點 X 射線管。
K 系列 XRF 符合 ASTM B568、DIN50987、ISO 3497 和 IPC-4552 標準。
K 系列 XRF 最適合有以下要求的客戶：
- 保證滿足 IPC-4552、4553、4554 和 4556 標準
- 卓越的人體工學設計：輕鬆存取、可程式載物台、活躍的行程
- 符合 ASTM B568 和 ISO 3497 標準
- RoHS 能力
產品規格
| 元素範圍： | 鋁 13 到鈾 92 |
| X射線激發： | 50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢陽極管（可提供鉻、鉬、銠陽極） |
| 檢測器： | 解析度為 190eV 或更高的矽固態探測器 |
| 分析 層分析和元素的數量： |
每層5層（4層+底層）和每一層可達10個元素，同時分析多達30個元素 |
| 濾波器/準直器： | 4個主濾波器/4 個電動準直器 |
| 焦距深度： | 具有雷射和影像自動對焦功能的多個固定焦深 |
| 數字脈衝處理： | 4096CH數字多通道分析儀，具有靈活的成型時間，自動信號處理包括無效時間校正和逃逸峰校正 |
| 電腦： | Intel，CORE i5 3470處理器，8GB DDR3內存，Microsoft Windows 10/11 Professional 64bit等效能 |
| 相機光學： | 2x 1/3〃 CMOS- 2688×1520 分辨率 |
| 影像倍率： | 30 倍微距和 7 倍數位變焦：標準； 55X微型可選 |
| 電源供應： | 480W，100~240伏特；頻率範圍 47Hz 至 63Hz |
| 重量： | 270 Lbs/ 120 Kg |
| 標準電動/可編程 XY： | 台面尺寸：304mm x 304mm / 行程：304mm x 304mm |
| 內部尺寸： | 高度：609 mm，寬度：609 mm，深度：228 mm |
| 外形尺寸： | 高度：712 mm，寬度：928 mm，深度：674 mm |