Bowman 保證其所有 XRF 系統都滿足並超過 IPC-4552 rev A&B 中定義的量具能力要求。Bowman 系統專門使用矽漂移檢測器 (SDD) 技術以獲得最佳的全面性能。

SDD 提供最佳分辨率、最低雜訊水平（最高信噪比）、長期穩定性和最短測試時間。我們還可以直接測量化學鍍鎳沉積物中的 %P。結合 Bowman 高度可靠的 X 射線管，這個硬體組合代表了我們提供的每個 XRF 系統的堅實核心。

無論您是測量 ENIG、ENEPIG、HASL、化學鍍鎳、%P、RoHS 還是其他 PCB 應用，Bowman 都能提供滿足您要求的完美解決方案。憑藉全系列的型號和硬件選項，我們的專家可以幫助您選擇最適合您需求的產品。

用於 PCB 分析的兩種最流行的型號是 P 和 B series系統。P series包括一組多准直器組件，以適應各種尺寸和各種可編程 XY 載物台尺寸和行程範圍。B series是最實惠的選擇，提供與 P 系列相同的測量性能，但沒有可編程平台或多個准直器尺寸。

如果您的測點尺寸接近 100 μm 或更小，Bowman 提供多導毛細管光學系統，它結合了非常小的 X 射線束尺寸和高通量水平。隨著准直器尺寸的減小，X 射線（通量）的數量也隨之減少。這會直接影響可重複性並增加獲得可接受結果所需的測試時間。多導毛細管光學器件為非常小的測點提供了最有效的解決方案，而 Bowman 提供的光束尺寸低至 7.5 FWHM，是業內最小的。

P series

可編程 XY 載物台（行程從 5”x6” 到 16”x16”）、多個准直器（默認為 4、8、12、24mil，可提供定制選項）、可容納各種尺寸面板的狹縫式。標配SDD探測器；可選配大窗口 SDD，可實現最短的測量時間。

B series

用於手動測點定位的固定底座、單准直器（多准直器組件可選）、可容納所有尺寸面板的狹縫式。標配SDD探測器；可選配大窗口 SDD，可實現最短的測試時間。