產品介紹

高性能黃金偵測

利用X射線螢光技術進行高性能黃金偵測

黃金因其延展性好、不易變色生鏽以及與其他金屬合金化後經久耐用,成為珠寶業的主要元素。 如今最常見的黃金合金包括:14K金(用於日常佩戴的珠寶)、18K金(用於訂婚戒指等較為精緻的珠寶)、22K金(用於高端珠寶),以及24K純金珠寶。

黃金(Au)檢測是指測量金合金成分的應用。這個過程在珠寶和貴金屬行業至關重要,因為監測和控制金粒的質量,能夠幫助零售商和精煉商確認黃金首飾的真偽,並確定金合金的濃度。

X射線螢光光譜法 (XRF) 是一種快速、可靠且幾乎無需樣品製備的檢測方法。Bowman 桌上型XRF 分析儀的每台設備均標配高解析度矽漂移偵測器 (SDD),可實現最高計數率,並具備同時分析多達 30 種元素的校準能力,使其成為測定任何樣品中金純度的理想工具。

Bowman 的所有 XRF 系統均配備矽漂移偵測器 (SDD),可精確測定元素組成。最新的 SDD 偵測器技術在提供準確可靠結果的同時,還能提供最佳解析度、最低雜訊等級(最高訊號雜訊比)和最短測試時間。

結論

Bowman G、B、P 和 L 系列產品能夠在短時間內精確測定黃金樣品成分,這得益於其精妙的設計。高解析度矽漂移偵測器和 Bowman 先進的 Archer 軟體能夠顯著降低常見元素幹擾,從而提高黃金成分測定的準確性。 Archer 軟體操作簡便,功能強大,是進行厚度測量、成分分析、元素分析和電鍍液分析的理想一站式解決方案。

 

G series

樣品室尺寸 12”x13”x4”(寬 x 深 x 高)。帶有手動 XY 載物台(1.5”x1.5”移動)和單準直器(8 或 12 mil)的自下而上幾何結構。標配 SDD 檢測器;可選配大窗口 SDD ,可實現最短的測試時間。

 

B series

用於手動測點定位的固定底座、單准直器(多准直器組件可選)、可容納所有尺寸面板的狹縫式。標配SDD探測器;可選配大窗口 SDD,可實現最短的測試時間。

 

P series

可編程 XY 載物台(行程從 5”x6” 到 16”x16”)、多個准直器(默認為 4、8、12、24mil,可提供定制選項)、可容納各種尺寸面板的狹縫式。標配SDD探測器;可選配大窗口 SDD,可實現最短的測量時間。

 

L series

樣品室尺寸 22”x24”x11”(寬 x 深x 高)。包括可編程 XY 載物台(行程10”x10”)和多個准直器(默認為 4、8、12、24mil,可提供定制選項)。SDD探測器標準;大窗口 SDD 可選,可實現最快的測試時間。

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