2025-03-26
【應用】Bowman XRF鍍層厚度測量於半導體產業的相關應用
什麼是Bowman XRF?
Bowman XRF(X-Ray Fluorescence Spectrometer,X射線螢光光譜)是一種非破壞性的分析技術,廣泛應用於材料科學中。它能夠準確測量材料的元素組成及其厚度,尤其在半導體產業中,對於鍍層厚度的測量尤為重要。
鍍層厚度在半導體產業的重要性
在半導體製造過程中,鍍層的厚度對於器件性能有著直接影響。適當的鍍層厚度能夠提高電導率(Electrical Conductivity...